台大化工系網站

●顯微鏡

-場發射電子顯微鏡(Ultra-High Resolution FE-SEM with low vacuum mode)

-光學顯微鏡(I)(Optical Microscope)

-光學顯微鏡(II)(Optical Microscope)

●粒徑分析儀/●表面電位測量儀

-雷射光繞射粒徑分析儀(Particle Size Analyzer by Static Light Scattering Method)

-高濃度粒徑分析及界面電位分析儀(Acoustic and Electroacoustic Spectrometer)

-動態光散射粒徑分析儀及界面電位分析儀(Particle Size and Zeta Potential Analyzer)

●密度儀

-密度分析儀(Automatic Gas Displacement Pycnometer)

●表面積及孔隙度測定儀

-比表面積分析儀(Specific Surface Area & Pore Size Distribution Analyzer by Gas Adsorption Method, ASAP2010 and ASAP2020)

-水銀測孔儀(Mercury Porosimeter)

●篩分機

-超音波篩分機(Ultrasonic Autosiever)

●研磨機

● 熱性質分析：

– 熱重分析儀 (Thermogravimetric Analysis(TGA))

– 差式掃瞄熱量分析儀 (Differential Scanning Calorimetry(DSC))

– 高溫示差同步掃描分析儀 (Thermogravimetry/Differential Thermal Analysis Thermoanalyzer(TG-DTA))

– 示差熱掃描-熱重分析儀 (Differential Scanning Calorimetry/ Thermogravimetry (DSC/TGA))

● 化學分析

– 原子吸收光譜分析儀 (Atomatic Analyzer(AA))

– 膠透層析儀 (Gel Permeation Chromatography(GPC))

– 離子層析儀 (Ion Chromatography(IC))

– 表面電漿共振儀 (Surface Plasmon Resonance(SPR))

– 霍氏轉換紅外光譜儀 (Fourier-Transform Infrared Spectrometer (FTIR))

● 材料鑑定與分析

– 掃瞄式電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope(SEM))

– 分散 X 光能量分析 (Energy Dispersive Spectrometer(EDS))

– X 光繞射儀 (X-Ray Diffractometer(XRD))

● 流體物性分析

– 接觸角儀 (Contact Angle System)

– 紫外光 – 可見光譜儀 (UV/Vis Spectrophotometer)

– 拉曼光譜儀 (Dimension Raman System)

– 偏光顯微鏡 (Polarized Optical Microscope)

– 光學顯微鏡 (Optical Microscope Confocal module)

– 屈折計 (Refractometer)

– X 光繞射儀 (X-Ray Diffractometer)

– 金相研磨機 (Grinding and Polishing Machine)

– 壓片機 (Pellet Press)

– 表面分析 – 電子能譜儀 (XPS) (X-ray Photoelectron Spectroscopy)

化工系目前擁有的AFM，廠牌型號SII E-SWEEP。

AFM操作特點如下：將探針置於固體sample上來回掃描，利用原子間的作用力來分析sample表面的3D圖形，能進一部分析表面的結構尺度以及粗超度，能觀察的尺度可以達到奈米等級，掃描方式也能隨材料不同選擇接觸式或非接觸式，為非破壞式的分析。

一般AFM是開放的機台，而此台SII E-SWEEP的機台有特殊的腔體， 能作真空或高壓的操作。

目前存放位置在化工一館R109A實驗室，商借請至一館127實驗室辦理。

– 真空控溫型原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscope (AFM))